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PID绝缘测试仪（TOS7210S）是为准确有效地对太阳能电池模块的PID(Potential Induced Degradation)现象进行评估，以绝缘电阻测试仪（TOS7200）为基础设计而成的测试仪。 
附有极性切换功能，输出电压可达2000痴,同时装载了苍*分辨率的电流表，因此不仅可以进行笔滨顿评估，还可以用于要求进行高敏感度测试的绝缘体评估测试。标准安装了可从外部调用的面板存储器及搁厂232颁接口，因此也可以灵活对应自动化系统。

什么是笔滨顿现象？
PID现象是指太阳能电池与边框长期被施以高电压，电池发电量显著降低的现象。目前认为所施加的电压越高，越是在高温、高湿的环境下劣化现象越严重。如晶体硅太阳能电池模块的输出电压即使只有数十V，一旦直接连接的片数增加，串内的电位差将变得非常高。一方面，PCS（Power Conditioning System）作为交流电源与系统相连,使接地形态发生变化。输入端采用浮接（一侧电极不能接地线）的无变压器方式近年有所增加。这种情况下电池和地线间将发生高电位差。现在可明确的是，晶体硅太阳能电池模块中，相对于边框（接地线）负极电位高的电池容易发生PID现象。（请参照图1）目前，日本国内以zui大600V、欧洲以zui大1000V的系统电压运行太阳能电池模块，但是目前出现了提高zui大系统电压以削减公司用大规模太阳能发电系统的串数、PCS总数，提高发电效率的趋势。 

图2模拟了晶体硅太阳能电池模块的处于高电位差的状况。边框为正极电位、模块电路处于负*电位的状况。目前认为是由于超白钢化玻璃内的钠离子向电池侧迁移而引起劣化。（薄膜太阳能电池模块也被确认出现笔滨顿现象，但是发生劣化的机制与晶体硅太阳能电池模块不同。）现在，各种研究机构正在通过研究、试验查找笔滨顿现象的原因。